НТЦ СИРИНН

НТЦ СИРИНН

Контрольно-измерительное
оборудование и автоматизация

IC-CAP

Описание и технические характеристики

Удобная в использовании программная среда; Широкий набор драйверов измерительного оборудования; Управление измерениями ВАХ, ВФХ, S-параметров и т.д.; Автоматизация измерений на пластине – новый модуль WaferPro; Создание собственных моделей экстракции с помощью встроенного языка программирования (PEL); экстракция параметров всего многообразия моделей полупроводниковых устройств; статистический анализ
Заказать звонок